Das Werk bietet einen umfassenden Überblick über das neue amerikanische Patentwesen nach Leahy-Smith America Invents Act. Es wendet sich an Praktiker und informiert schnell und fundiert über die Möglichkeiten und Besonderheiten des US-Patentrechts.

• »first inventor to file«
• »Post-grant review« (neu; vgl. Einspruch in Europa)
• »Inter partes review« (statt inter-partes re-examination)
• »Derivation« (statt interference)
• »Supplemental examination« (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents)
• »novelty« und »prior art« (wesentliche Änderungen)

Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert:

• materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren;
• Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens.

Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.

Begründet von Manfred Schlenk, Curt M. Avery,fortgeführt von Richard L. Mayer.

Ab der 5. Auflage bearbeitet von Jeffrey M. Butler und David Molnia.

Die Autoren:
Jeffrey M. Butler, Acting General Counsel and Senior Advisor/Global IP-Consulting, New York, USA;
David Molnia, Patentanwalt, München;
unter Mitarbeit von Andreas Holzwarth-Rochford, Patentanwalt, Frankfurt

Aus den Besprechungen:
»Aus der Sicht des Rezensenten kann das Werk jedem einschlägig tätigen Praktiker uneingeschränkt empfohlen werden und sollte einen Platz in jeder gut sortierten Patentbibliothek haben.«
Patentanwalt lngo A. Brückner, LL.M., Cerlingen, in: GRUR Int 04/17